ССМ-77

Применение сканирующего СКВИД-микроскопа

ССМ-77 предназначен для визуализации и количественных измерений локальных магнитных полей рассеяния высокотемпературных сверхпроводниковых тонкопленочных структур, магнитных пленок и магнитных микроструктур…

7 лет ago

Устройство сканирующего СКВИД-микроскопа

В отличие от обычных магнетометров, в каких СКВИДы употребляются как пассивные датчики низкочастотного либо неизменного магнитных полей, в микроскопе употребляется…

7 лет ago