СКВИД-микроскопов

Применение сканирующего СКВИД-микроскопа

ССМ-77 предназначен для визуализации и количественных измерений локальных магнитных полей рассеяния высокотемпературных сверхпроводниковых тонкопленочных структур, магнитных пленок и магнитных микроструктур…

7 лет ago