Растровый (сканирующий) электрический микроскоп (РЭМ, СЭМ) — прибор, позволяющий получать изображения поверхности эталона с огромным разрешением (несколько нанометров). Ряд дополнительных…
Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) был сотворен в 1982 г сотрудниками исследовательского отдела компании IBM Г. Биннигом и Х. Рёрером. Он…
Возможность сотворения действенных микрокантилеверных анализаторов предполагает рассмотрение главных черт их конкурентных аналогов. Различают несколько типов хим иммуносенсоров: химические, оптические, гравиметрические…
Особенностью многоэлементных пьезорезонансных датчиков (МЭ ПРД), основанных на использовании нелинейных процессов в сложных динамических системах, будет то, что при большом…