В конце 1986 года тот же Бинниг предложил конструкцию прибора последнего поколения, который позволяет изучить поверхности с беспримерной детальностью, но…
Широким классом устройств на базе АСМ являются бесконтактные детекторы, имеющие сходство с микро/наноэлектромеханическими системами (М/НЭМС), макетом которых можно считать датчики…
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) является сравнимо новым способом исследования объектов с высочайшим пространственным разрешением. Первым зондовым микроскопом стало изобретение швейцарских…