Широким классом устройств на базе АСМ являются бесконтактные детекторы, имеющие сходство с микро/наноэлектромеханическими системами (М/НЭМС), макетом которых можно считать датчики…
Атомная структура наноструктур исследуется с внедрением просвечивающего электрического микроскопа в режиме микродифракции. Для предотвращения радиационного повреждения пленок электрическим пучком дифракционная…