В конце 1986 года тот же Бинниг предложил конструкцию прибора последнего поколения, который позволяет изучить поверхности с беспримерной детальностью, но уже совсем не непременно электропроводящие. Новый прибор был назван атомным…
Атомная структура наноструктур исследуется с внедрением просвечивающего электрического микроскопа в режиме микродифракции. Для предотвращения радиационного повреждения пленок электрическим пучком дифракционная картина регистрируется при низкой интенсивности пучка с внедрением высокочувствительной видеокамеры…
Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) был сотворен в 1982 г сотрудниками исследовательского отдела компании IBM Г. Биннигом и Х. Рёрером. Он открыл очень перспективные способности научных и прикладных исследовательских работ в…
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) является сравнимо новым способом исследования объектов с высочайшим пространственным разрешением. Первым зондовым микроскопом стало изобретение швейцарских ученых Герхарда Биннига и Хайнриха Рорера, предложивших 1981 г. использовать…
В сопоставлении с растровым электрическим микроскопом (РЭМ) атомно-силовой микроскоп обладает рядом преимуществ. Так, в отличие от РЭМ, который даёт псевдотрёхмерное изображение поверхности эталона, АСМ позволяет получить поистине трёхмерный рельеф поверхности.…
We\'ve detected that you are using AdBlock or some other adblocking software which is preventing the page from fully loading.
У нас нет баннеров, флэшей, анимации, отвратительных звуков или всплывающих объявлений. Мы не реализовываем эти типы надоедливых объявлений! Нам нужны деньги для обслуживания сайта, и почти все они приходят от нашей интернет-рекламы.
Пожалуйста, добавьте tehnar.info к вашему белому списку блокирования объявлений или отключите программное обеспечение, блокирующее рекламу.
content