Измерительные устройства в общем случае могут быть представлены в виде колебательных систем, а если в более облегченном виде, то в виде колебательных контуров. Более подробный анализ режимов работы таких систем связаны с усложнением схем замещения, с необходимостью учёта наличия связей меж парциальными контурами. К примеру, с расширением частотного спектра измерительного устройства нужно выполнить переход от анализа колебаний в системе с сосредоточенными параметрами к анализу систем с распределёнными параметрами, рассматривая при всем этом уже не колебательные, а волновые процессы в системе.

Промежным вариантом для реальных устройств являются системы с конечным числом степеней свободы. Потому анализ динамических процессов в измерительных устройствах целенаправлено создавать методом перехода от систем с одной степенью свободы, к системам с 2-мя и поболее степенями свободы, а потом перейти к анализу режимов связанных колебаний и волн в таких системах.